Микроскоп OLYMPUS LEXT OLS 5100-LAF

Микроскоп OLYMPUS LEXT OLS 5100-LAF

руб.

Созданный для анализа отказов и исследований в области материаловедения, лазерный микроскоп OLS5100 сочетает в себе исключительную точность измерений, превосходные оптические характеристики и «умные» функции, оптимизирующие рабочий процесс. Точное измерение формы и шероховатости поверхности на субмикронном уровне упрощает рабочий процесс и гарантирует достоверность данных.

Общий коэффициент увеличения 54x–17,280x
Поле обзора 16 мкм–5,120 мкм
Оптическая система Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп отражательного типа
Фотодетектор Лазер: Фотоумножитель (2 канала); Цвет: Цветная CMOS-камера
Разрешение экрана 0,5 нм
Динамический диапазон 16 бит
Воспроизводимость σn-1*1 *2 *5 5X: 0,45 мкм, 10X: 0,1 мкм, 20X: 0,03 мкм, 50X: 0,012 мкм, 100X: 0,012 мкм
Погрешность *1 *3 *5 0,15+L/100 мкм (L: измеряемая длина [мкм])
Погрешность сшитого изображения *1 *3 *5 10X: 5.0+L/100мкм, 20X или выше: 1.0+L/100мкм (L: Длина сшивки [мкм])
Помехи при измерении (Sq) *1 *4 *5 1 нм (Тип)
Разрешение экрана 1 нм
Воспроизводимость 3σn-1 *1 *2 *5 5X: 0,4 мкм, 10X: 0,2 мкм, 20X: 0.05 мкм, 50X: 0,04 мкм, 100X: 0,02 мкм
Погрешность *1 *3 *5 Значение измерения +/- 1,5 %
Погрешность сшитого изображения *1 *3 *5 10X: 24+0,5L мкм, 20X: 15+0,5L мкм, 50X: 9+0,5L мкм, 100X: 7+0,5L мкм (L: Длина сшивки [мм])
Макс. количество точек измерения в одном измерении 4096 × 4096 пикселей
Макс. количество точек измерения 36 мегапикселей
Модуль измерения длины NA
Рабочий диапазон 300 × 300 мм Моториз.
Макс. высота образца 30 мм
Длина волны 405 нм
Макс. выходная мощность 0,95 мВт
Класс лазера Класс 2 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014)
Источник цветного света Белый светодиод
Электропитание 278 Вт
Корпус микроскопа Прибл. 50 кг
Блок управления Прибл. 12 кг